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說說手機可靠性測試
說說手機可靠性測試
產(chǎn)品可靠性是設計和制造出來的,但必須通過試驗予以驗證。在手機的研制階段,為了保證手機具有一定的可靠性水平或提高手機的可靠性,要通過可靠性增長試驗暴露手機的缺陷,進而進行分析,并采取有效糾正措施,使手機的可靠性得到增長。影響產(chǎn)品可靠性的極其重要的因素是環(huán)境。環(huán)境因素多種多樣:溫度、濕度、壓力、輻射、降雨、風、雷、電、鹽霧、砂塵、振動、沖擊、噪聲、電磁輻射等,都不可避免地對電子產(chǎn)品產(chǎn)生不良影響。
有資料顯示,電子產(chǎn)品故障的52%失效是由環(huán)境效應引起:其中由溫度引起的占40%,由振動引起的占27%,由濕度引起的占19%,其余14%是砂塵、鹽霧等因素引發(fā)的故障。在手機投入市場之前,環(huán)境試驗被用來評估環(huán)境影響手機的程度,當手機的功能受到了影響,環(huán)境試驗被用來查明原因,并采取措施保護手機免受環(huán)境影響以保護手機的可靠性,環(huán)境試驗也被用來分析手機在實際使用過程中出現(xiàn)的缺陷以及新產(chǎn)品的改進。總之,環(huán)境適應性試驗對于保證手機的可靠性是非常有效.
今天筆者從環(huán)境試驗方面的角度來跟您分享高溫工作、低溫、恒溫恒濕試驗、冷熱沖擊試驗、鹽霧試驗等方面測試規(guī)范是如何定義要求的?
高溫工作:
1、手機處于開機狀態(tài),并在測試樣機中儲存好當前時間(北京時間)、日期、照片、信息、錄音、電話號碼(電話號碼需存在手機里面,不允許存在SIM卡里),如果是翻/滑蓋機,應打開放入環(huán)境箱內(nèi);
2、啟動環(huán)境試驗箱,設置溫度從常溫25℃以1℃/min的速率升溫到55℃±2℃(即升溫時間為:30min);在55℃的溫度條件下存儲4H;
3、測試周期過后,將溫度從55℃以1℃/min的速率降溫到常溫25℃(即降溫時間為:30min),恢復兩個小時后查看測試所存的信息是否丟失錯亂等,并進行外觀、結構及功能檢查。
低溫工作:
1、手機處于開機狀態(tài),并在測試樣機中儲存好當前時間(北京時間)、日期、照片、信息、錄音、電話號碼(電話號碼需存在手機里面,不允許存在SIM卡里),如果是翻/滑蓋機,應打開放入環(huán)境箱內(nèi);
2、啟動環(huán)境試驗箱,設置溫度從常溫25℃以1℃/min的速率降溫到-20℃±2℃(即降溫時間為:45min);在-20℃的溫度條件下存儲4H;
3、測試周期過后,將溫度從-20℃以1℃/min的速率升溫到常溫25℃(即升溫時間為:45min),恢復兩個小時后查看測試所存的信息是否丟失錯亂等,并進行外觀、結構及功能檢查。
恒溫恒濕試驗:
1、手機處于開機狀態(tài),并在測試樣機中儲存好當前時間(北京時間)、日期、照片、信息、錄音、電話號碼(電話號碼需存在手機里面,不允許存在SIM卡里),如果是翻/滑蓋機,應一半打開一半閉合;
2、啟動恒溫恒濕試驗箱,設置溫度從常溫25℃以1℃/min的速率升溫到50℃±2℃(即升溫時間為:25min),并設置濕度95%±3%RH;在此溫度濕度條件下存儲48H;
3、測試周期過后,將溫度從50℃以1℃/min的速率降溫到常溫25℃(即降溫時間為:25min),恢復兩個小時后查看測試所存的信息是否丟失錯亂等,并進行外觀、結構及功能檢查。
冷熱沖擊試驗:
1、手機處于關機狀態(tài),如果是翻/滑蓋機,應打開放入冷熱沖擊試驗箱中;
2、先在-40℃±2℃的低溫環(huán)境下保持30分鐘,在5分鐘內(nèi)將溫度livingwellskin.com切換到70℃±2℃的高溫環(huán)境下并保持30分鐘,共做20個循環(huán);
3、測試周期過后,將溫度以1℃/min的速率調(diào)到常溫25℃,恢復兩個小時后進行外觀、結構及功能檢查,最后需拆機檢查。
鹽霧測試:
1、將待測手機用細繩懸掛置于鹽霧試驗箱內(nèi),如果是翻/滑蓋機應打開放置,測試鹽溶液濃度為5%,PH值為6.5~7.2,測試箱內(nèi)溫度保持在35±2℃,連續(xù)噴霧24H,后取出用棉布擦拭干凈在常溫下恢復2H,然后檢查外觀、結構及功能有無異常;
2、如果是結構件噴霧24H,取出用自來水(水溫不高于35℃)沖洗5min后用棉布擦拭干凈在常溫下恢復2H,進行外觀檢查。
經(jīng)過筆者的調(diào)查發(fā)現(xiàn)任何一款手機新品的上市,都需要經(jīng)過授權檢驗單位的嚴格測試。這些測試內(nèi)容中非常重要的一項就是手機的環(huán)境適應性試驗及部分部件的壽命試驗。在目前的標準文件中,對環(huán)境試驗所規(guī)定的環(huán)境條件通常比手機使用所處的環(huán)境要嚴酷的多,并且更有代表性,所以通過筆者對環(huán)境中試驗中的幾項測試的闡述,是不是對手機的可靠性測試有了一個宏觀的認知呢?
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