溫度循環(huán)試驗箱◎RAMP試驗溫變率列表
快速溫度變化試驗箱,快速溫度循環(huán)試驗箱,環(huán)境應力篩選試驗箱的詳細介紹
|
溫度循環(huán)試驗箱◎RAMP試驗溫變率列表
|
|
溫度循環(huán)試驗箱(斜率可控制)
[5℃～30 ℃/min]
|
|
|
|
|
30℃/min
|
電子原件焊錫可靠度、PWB的嵌入電阻&電容溫度循環(huán) MOTOROLA壓力傳感器溫度循環(huán)試驗
|
|
28℃/min
|
LED汽車照明燈
|
|
25℃/min
|
PCB的產(chǎn)品合格試驗、測試Sn-Ag焊劑在PCB疲勞效應
|
|
24℃/min
|
光纖連接頭
|
|
20℃/min
|
IPC－9701 、覆晶技術(shù)的極端溫度測試、GS-12-120、飛彈電路板溫度循環(huán)試驗 PCB暴露在外界影響的ESS 測試方法、DELL計算機系統(tǒng)&端子、改進導通孔系統(tǒng)信號 比較IC包裝的熱量循環(huán)和SnPb焊接、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命
|
|
|
|
17℃/min
|
MOTO
|
|
15℃/min
|
IEC 60749－25、JEDEC JESD22-A104B、MIL 、DELL液晶顯示器 電子組件溫度循環(huán)測試(家電、計算機、通訊、民用航空器、工業(yè)及交通工具、 汽車引擎蓋下環(huán)境)
|
|
11℃/min
|
無鉛CSP產(chǎn)品溫度循環(huán)測試、芯片級封裝可靠度試驗(WLCSP) 、IC包裝和SnPb焊接、 JEDEC JESD22-A104-A
|
|
10℃/min
|
通用汽車、 JEDEC JESD22-A104B-J、GR-1221-CORE 、 CR200315 、MIL JEDEC JESD22-A104-A-條件1 、溫度循環(huán)斜率對焊錫的疲勞壽命、 IBM-FR4板溫度循環(huán)測試
|
|
5℃/min
|
錫須溫度循環(huán)試驗
|
|
|
|
